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新研电子元器件应用验证方法探讨

邱秀玲 谢扬

重庆航天职业技术学院

本文首先对新研电子元器件的验证内容展开分析，包括功能验证、性能验证、工艺验证等，然后对新研电子元器件验证方法的使用现状进行阐述，如国产元器件适用性较低、验证规范的权威性较差、研制和应用结合度较低等，通过研究总体验证流程分析、应用验证方法分析、验证效果评价分析、验证信息共享评估等内容，以期能够提升验证结果的准确性，提升电子元器件分配的合理性。
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【栏　目】 理论研究
【分　类】 文化、科学、教育、体育
【关键词】 功能验证 工艺验证 验证效果 验证方法
【出　处】 《文渊·中学版》2021年02期 第357页 （共1页）

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文渊·中学版（2021年02期）

导出/参考文献
[1]邱秀玲，谢扬. 新研电子元器件应用验证方法探讨[J]. 文渊·中学版 . 2021(02): 357.

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